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快速升降溫試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

高低溫快速升降溫試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

快速溫變老化試驗(yàn)箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機(jī)械性能引起的失效，當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。

快速溫變測(cè)試箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

快速溫變應(yīng)力試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。